Beschreibung:
Mit der Bestimmung von optischen und dielektrischen Materialkonstanten sowie Schichtdicken ist die Methode Ellipsometrie in der Material-, Oberflächen- und Schichttechnologie unverzichtbar.
Die Datenbank Ellipsometrie enthält Einträge zu Nutzern der Methode Ellipsometrie, deren technischer Ausrüstung sowie aktuellen Arbeitsgebieten. Ziel ist es, ein möglichst umfassendes Bild der sich rasch entwickelnden Anwendungen zu geben und den Informationsaustausch zu fördern.
Sprache:
englisch
Sachgebiete:
Ellipsometrie
Oberflächentechnik
Schichttechnologie
Materialprüfung
Qualitätssicherung
Werkstoffwissenschaft
Firmenprofil
Dokumentationsart:
Faktendatenbank (Personen, Institutionen und Firmen)
Ausgewertete Quellen:
Eintragung auf Anfrage der Nutzer
Zeitliche Abdeckung:
jeweils aktueller Bestand
Regionale Abdeckung:
Europa
Aktualisierung:
laufend
Produzent(en) der Datenbank:
Arbeitskreis Elliptiometrie (AKE) c/o BAM
Unter den Eichen 87, 12205 Berlin
Die Datenbank liegt auf bei:
http://www.ake-pdv.org
Benutzungsmodalitäten:
Im Internet kostenlos nutzbar,